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Allegro X / OrCAD X 26.1 发布 | PCB、封装与高速设计更新重点

Cadence Allegro X/OrCAD X 26.1 正式发布!从 Shape 与走线编辑、属性与约束管理,到装配检查及高速设计,新版带来多项贴近日常工作的更新,并涵盖 APD AI ASR 辅助布线、多板系统设计与高速接口验证。

以下依产品整理主要亮点,帮助您快速掌握与设计工作相关的新增及强化功能。

Allegro X PCB Editor/Allegro X APD

增强 Layout 编辑、设计检查与封装布线

Shape 与走线编辑

实时预览覆铜;设置相关属性后,移除相连对象或复制走线时可保留 Net 分配。

属性与约束管理

可批量修改受支持对象的属性,查看 Net 级约束覆盖。

DFA 装配检查

检查引脚间距、扇出一致性与 Via 居中。

高速参数化结构

创建可调整、复用的差分对/单端 Via 结构。

Footprint 模板

快速创建符合 IPC 规范的 Footprint。

3D 视图与机械协同

查看多板配置与系统连接,并改善 ECAD-MCAD 数据交换及变更审阅。

RLGC 模型提取

从 Layout 生成与 SPICE 兼容 的电路模型。

APD X AI ASR

强化功能等效布线、Die-Pin Breakout 与 Die-to-Die 屏蔽。

APD X AI Power / Ground Generator

以 Stitching Via 与可编辑 Shape 创建电源/接地连接。

APD Daisy-chain (菊花链)

支持整条链或链中个别 Pin 编辑,并改善排列、导出与显示。

※ 注:各项更新依产品、授权及设置条件提供,并非所有更新都同时适用于 PCB Editor 和 APD。APD X AI 功能须搭配对应授权与 X AI Tokens (2026 年底);RLGC 提取须搭配相关分析工具与授权。

Allegro X System Capture

简化原理图操作、设计设置与系统分析

自动创建差分对

通过 Constraint Manager 识别匹配的正负信号并创建差分对,无须维护独立配置文件。

Pin Delay 导入验证

自动检查数据,导入前审阅、修改及排除项目。

原理图导航与窗口管理

以 Minimap 快速定位页面区域,并以选项卡切换堆叠的工作窗口。

系统集成与 3D 导出

支持导入 MCM 设计、验证跨设计连通性,并以 .scf 导出 3D 系统。

Layout Mode 集成分析

通过 Clarity 3D QS 提取 RLGC 模型,并以 LayoutLink Profile 执行跨设计反射分析。

可靠性参数复用

将已验证参数存为 Profile,跨设计应用并通过 CSV 审阅更新。

※ 注:分析功能依搭配工具、授权及设置条件提供。

PSpice/PSpice Advanced Analysis

扩充仿真资源与分析功能

元器件库

新增 Murata 与 TAIYO YUDEN 元器件库,扩充可用的仿真模型。

模型与子电路选择

依条件智能选择模型与子电路,支持模型扫描与变体分析。

仿真设置

通过 Persona 应用预定义仿真选项,加快设置流程并提升跨项目的一致性。

应力分析

支持依环境温度进行电阻降额,强化应力 (Smoke) 分析流程。

高频热噪声建模

可启用量子修正计算,改善极高频或极低温下的电阻热噪声模型。

自定义测量

提供通用 MATLAB 与 Tcl 测量函数,支持高级自定义分析与验证流程。

Sigrity X Aurora/Topology Workbench

强化高速接口验证、多设计分析与波形查看

存储器测量报告

支持 LPDDR6 与 HBM4,并在 Parallel Bus Analysis 中支持同步读写周期仿真。

串行链路验证

支持多通道分析、通道特性分析及 PCI Express Gen 7 兼容性验证。

跨设计分析

强化相连 PCB 与封装设计的信号行为分析。

多设计反射分析

通过 System Configuration 与 LayoutLink 文件,复用跨设计连接与分析设置。

RLGC 电路模型

于 IME 流程中,从 Layout 结构直接生成与 SPICE 兼容 的 RLGC 模型。

系统建模

支持 IBIS-EMD、线性缓冲器模型及自动提取 Broadband SPICE 模型。

瞬态电路仿真

可直接于 Serial Link Analysis 中执行。

波形查看

新增 Grid Curve Viewer 并排分析,强化测量、曲线筛选、CSV 导出与结果管理。

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