Cadence Allegro X/OrCAD X 26.1 正式发布!从 Shape 与走线编辑、属性与约束管理,到装配检查及高速设计,新版带来多项贴近日常工作的更新,并涵盖 APD AI ASR 辅助布线、多板系统设计与高速接口验证。
以下依产品整理主要亮点,帮助您快速掌握与设计工作相关的新增及强化功能。
Allegro X PCB Editor/Allegro X APD
增强 Layout 编辑、设计检查与封装布线
Shape 与走线编辑 |
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实时预览覆铜;设置相关属性后,移除相连对象或复制走线时可保留 Net 分配。 |
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属性与约束管理 |
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可批量修改受支持对象的属性,查看 Net 级约束覆盖。 | |
DFA 装配检查 |
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检查引脚间距、扇出一致性与 Via 居中。 | |
高速参数化结构 |
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创建可调整、复用的差分对/单端 Via 结构。 | |
Footprint 模板 |
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快速创建符合 IPC 规范的 Footprint。 | |
3D 视图与机械协同 |
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查看多板配置与系统连接,并改善 ECAD-MCAD 数据交换及变更审阅。 | |
RLGC 模型提取 |
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从 Layout 生成与 SPICE 兼容 的电路模型。 | |
APD X AI ASR |
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强化功能等效布线、Die-Pin Breakout 与 Die-to-Die 屏蔽。 | |
APD X AI Power / Ground Generator |
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以 Stitching Via 与可编辑 Shape 创建电源/接地连接。 | |
APD Daisy-chain (菊花链) |
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支持整条链或链中个别 Pin 编辑,并改善排列、导出与显示。 |
※ 注:各项更新依产品、授权及设置条件提供,并非所有更新都同时适用于 PCB Editor 和 APD。APD X AI 功能须搭配对应授权与 X AI Tokens (2026 年底);RLGC 提取须搭配相关分析工具与授权。
Allegro X System Capture
简化原理图操作、设计设置与系统分析
自动创建差分对 |
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通过 Constraint Manager 识别匹配的正负信号并创建差分对,无须维护独立配置文件。 |
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Pin Delay 导入验证 |
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自动检查数据,导入前审阅、修改及排除项目。 | |
原理图导航与窗口管理 |
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以 Minimap 快速定位页面区域,并以选项卡切换堆叠的工作窗口。 | |
系统集成与 3D 导出 |
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支持导入 MCM 设计、验证跨设计连通性,并以 .scf 导出 3D 系统。 | |
Layout Mode 集成分析 |
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通过 Clarity 3D QS 提取 RLGC 模型,并以 LayoutLink Profile 执行跨设计反射分析。 | |
可靠性参数复用 |
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将已验证参数存为 Profile,跨设计应用并通过 CSV 审阅更新。 |
※ 注:分析功能依搭配工具、授权及设置条件提供。
PSpice/PSpice Advanced Analysis
扩充仿真资源与分析功能
元器件库 |
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新增 Murata 与 TAIYO YUDEN 元器件库,扩充可用的仿真模型。 |
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模型与子电路选择 |
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依条件智能选择模型与子电路,支持模型扫描与变体分析。 | |
仿真设置 |
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通过 Persona 应用预定义仿真选项,加快设置流程并提升跨项目的一致性。 | |
应力分析 |
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支持依环境温度进行电阻降额,强化应力 (Smoke) 分析流程。 | |
高频热噪声建模 |
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可启用量子修正计算,改善极高频或极低温下的电阻热噪声模型。 | |
自定义测量 |
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提供通用 MATLAB 与 Tcl 测量函数,支持高级自定义分析与验证流程。 |
Sigrity X Aurora/Topology Workbench
强化高速接口验证、多设计分析与波形查看
存储器测量报告 |
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支持 LPDDR6 与 HBM4,并在 Parallel Bus Analysis 中支持同步读写周期仿真。 |
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串行链路验证 |
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支持多通道分析、通道特性分析及 PCI Express Gen 7 兼容性验证。 | |
跨设计分析 |
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强化相连 PCB 与封装设计的信号行为分析。 | |
多设计反射分析 |
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通过 System Configuration 与 LayoutLink 文件,复用跨设计连接与分析设置。 | |
RLGC 电路模型 |
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于 IME 流程中,从 Layout 结构直接生成与 SPICE 兼容 的 RLGC 模型。 | |
系统建模 |
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支持 IBIS-EMD、线性缓冲器模型及自动提取 Broadband SPICE 模型。 | |
瞬态电路仿真 |
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可直接于 Serial Link Analysis 中执行。 | |
波形查看 |
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新增 Grid Curve Viewer 并排分析,强化测量、曲线筛选、CSV 导出与结果管理。 |
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