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Sigrity XtractIM

封装设计专用的模型萃取及电气评估软件

Sigrity™ XtractIM™ 是专门为 BGA、SiP 和 leadframe 等封装设计所使用的模型萃取及电气特性评估分析软件。

利用其方便易用的操作流程,让我们将流程标准化之外操作也更容易上手。而 Sigrity 混合式的萃取架构更能够让封装设计部门在不失准度下以数倍的速度建立出所需的封装模型,甚或是配合选购的宽带分析以建立宽带模型。

模型萃取

XtractIM 其混合式的模型萃取架构能够让封装设计部门以很快的速度建立出 IBIS 或 SPICE 模型以做为其他阶段的分析。让我们可配合其他 drivers、receivers、interconnects 模型做系统阶电源或信号分析时的十分重要的封装模型来源,它能列出各接点或信号的 RLC 寄生模型、耦合、Pi / T SPICE 的子电路模型,并且能配合选购的 Broadband SPICE 以建立出更高精确度的封装模型。

电气特性评估

其特有的电气特性评估分析在封装设计过程中可利用其便捷的图形效果来显示出阻抗等等的电气特性评估的结果,让我们可以更快速的找到 DRC 之外的电气特性问题点。

Sigrity 系列产品都有一个十分方便的工作流程,即使您不是专门跑 SI 的人或是有时才会随着项目跑一下报告萃取模型,您只要随着其流程步骤就能够很快上手产生出标准化的模型及报表。

方便易用的操作流程,对比较不常用或是 Layout 人员也可很快上手

与其他相似产品相比 RLC 的萃取可快到 10 倍

高准确性的全波分析

支持各种样式的封装和 SiP 设计

便捷的图形效果来显示电气特性评估结果使快速的找到微小的问题点

各种接点群组设定可依想要的解析条件自定

嵌入式被动组件也可一并计算完整萃取功能

可精确计算各信号与电源 / 地和零件间耦合效果及拓朴

选购的宽带分析能提供更高程度的准确性

压缩后宽带模型档案大小只有原 S 参数的 2%,并可用于时域分析

各种 2D / 3D 显示效果,及图表和电子表格可便于各种数据管理与分析

可加载 Cadence、Mentor、Zuken 的封装设计数据

XtractIM 以其便利的工作流程并支持各封装设计之外,混合式的模型萃取架构能够让封装设计部门以很快的速度建立出 IBIS 或 SPICE 模型或是配合选购的宽带分析以提供更高准度的模型,其独特的电气特性评估功能更能够帮助我们在封装设计的过程中以更快速的方式找到是否运作不良的问题点。

可支持各式封装设计

支持 flip-chip 和 wirebond 等样式之单一芯片或多个芯片的封装和 SiP 设计 (BGA 及 leadframe)。

便捷的工作流程

便利并可客制的工作流程,辅助设定相关的数据如:层迭、bump 和 Solder Ball,定义信号和电源 / 地线及其他相关萃取参数。

模 型 萃 取

建立多种格式的封装模型

可建立 SPICE T、SPICE PI、IBIS PKG、Pin Model IBIS、Pin Model Excel、DC Resistance 等格式之封装模型。

各种结果和报表检视效果

以各报表或图形显示结果方便检测及判读。

电 气 特 性 评 估

电性评估

以 2D 的方式显示 R 和 L 以判别何者影响较大。

Signal Net Assessment - Impedence Plot

可迅速检测 Net 之各段阻抗值。

Signal Net Assessment - Impedence By Layer

以色阶图的方式显示单层各线段之阻抗范围。